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＜図書＞
Transmission Electron Microscopy of Semiconductor Nanostructures : An Analysis of Composition and Strain State / Andreas Rosenauer
(Springer tracts in modern physics : Ergebnisse der exakten Naturwissenschaften / editor, G. Höhler ; v. 182)
(Physics and astronomy online library)
| 出版者 | Berlin : Springer |
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| 出版年 | c2003 |
| コード類 | 書誌ID=2001078321 NCID=BA61398367
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書誌詳細を表示
| 本文言語 | 英語 |
|---|---|
| 大きさ | xii, 238 p. : ill. ; 24 cm |
| 一般注記 | Includes bibliographical references and index |
| 著者標目 | Andreas Rosenauer |
| 巻冊次 | ISBN:3540004149 |
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| 配架場所 | 巻 次 | 請求記号 | 資料番号 | 状 態 | コメント | ISBN | 刷 年 | 印刷 | 予約 | 利用注記 | 文献取寄 | eDDS |
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| 理院・物理学専攻図書室 |
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621.381/R723 | 2070581378 |
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3540004149 | 2003 |
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