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＜図書＞
IN SITU質量分析法による電極表面吸着層の微細構造解析 / 研究代表者 嶋津克明
IN SITU シツリョウ ブンセキホウ ニヨル デンキョク ヒョウメン キュウチャクソウ ノ ビサイ コウゾウ カイセキ
(科学研究費補助金(一般研究C)研究成果報告書 ; 平成3年度)
| 出版者 | [札幌] : [北海道大学理学部] |
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| 出版年 | 1992.3 |
| コード類 | 書誌ID=2001258243 NCID=BA75453725
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| 本文言語 | 英語 |
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| 大きさ | 73p ; 26cm |
| 一般注記 | 課題番号: 02640329 |
| 著者標目 | 嶋津, 克明(1950-) <シマズ, カツアキ> |
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| 配架場所 | 巻 次 | 請求記号 | 資料番号 | 状 態 | コメント | ISBN | 刷 年 | 印刷 | 予約 | 利用注記 | 文献取寄 | eDDS |
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| 本館・中央書庫1階・参考科研報告書 |
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001.44/RI/1992 | 0180230842 |
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1992 |
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