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＜図書＞
Symposium on advances in electron metallography and electron probe microanalysis : held at Atlantic City, N.J., June 28, 1960, and June 26, 1961 / sponsored by Subcommittee XI on Electron Microstructure of ASTM Committee E-4 on Electron Metallography
(ASTM special technical publication ; no. 317)
| 出版者 | Philadelphia, Pa. : ASTM |
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| 出版年 | 1962 |
| コード類 | 書誌ID=2001077985 NCID=BA20544253
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書誌詳細を表示
| 本文言語 | 英語 |
|---|---|
| 大きさ | v, 207 p. ; 24 cm |
| 一般注記 | This is v.3 of "ASTM advances in electron metallography series" (data based on Advances in electron metallography, v.6, 1966) |
| 著者標目 | *Symposium on Advances in Electron Metallography American Society for Testing and Materials. Committee E-4 on Metallography |
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| 配架場所 | 巻 次 | 請求記号 | 資料番号 | 状 態 | コメント | ISBN | 刷 年 | 印刷 | 予約 | 利用注記 | 文献取寄 | eDDS |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 工・材料化学系部門図書室 |
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669.95/AM35 | 0024006292 |
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1962 |
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