<図書>
欠陥制御・界面制御に基づく窒化ガリウム系デバイス構造の高信頼化 / 研究代表者 橋詰保
ケッカン セイギョ カイメン セイギョ ニモトズク チッカ ガリウムケイ デバイス コウゾウ ノ コウシンライカ
(科学研究費補助金(基盤研究(B))研究成果報告書 ; 平成17年度〜平成18年度)
出版者 | [札幌] : [北海道大学量子集積エレクトロニクス研究センター] |
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出版年 | 2007.4 |
コード類 | 書誌ID=2001347047 NCID=BA83084635 |
書誌詳細を表示
本文言語 | 日本語,英語 |
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大きさ | 1冊 ; 30cm |
一般注記 | 課題番号: 17360133 片面印刷 |
著者標目 | 橋詰, 保(1956-) <ハシズメ, タモツ> |
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配架場所 | 巻 次 | 請求記号 | 資料番号 | 状 態 | コメント | ISBN | 刷 年 | 印刷 | 予約 | 利用注記 | 文献取寄 | eDDS |
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本館・中央書庫1階・参考科研報告書 |
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001.44/RYO/2007 | 0180451075 |
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2007 |
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