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<図書>
欠陥制御・界面制御に基づく窒化ガリウム系デバイス構造の高信頼化 / 研究代表者 橋詰保
ケッカン セイギョ カイメン セイギョ ニモトズク チッカ ガリウムケイ デバイス コウゾウ ノ コウシンライカ
(科学研究費補助金(基盤研究(B))研究成果報告書 ; 平成17年度〜平成18年度)

出版者 [札幌] : [北海道大学量子集積エレクトロニクス研究センター]
出版年 2007.4
コード類 書誌ID=2001347047 NCID=BA83084635

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本文言語 日本語,英語
大きさ 1冊 ; 30cm
一般注記 課題番号: 17360133
片面印刷
著者標目 橋詰, 保(1956-) <ハシズメ, タモツ>

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本館・中央書庫1階・参考科研報告書
001.44/RYO/2007 0180451075

2007